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M9 材料是什麼?從一塊電路板,看懂 AI 伺服器背後的材料升級

2026-09-26 發布 · 2026-09-26 更新

CCL材料發展加速,看懂市場目前最競爭的M9材料是甚麼

談到 AI 伺服器,大家往往先想到運算晶片與記憶體。不過,這些零件要一起工作,還得靠電路板傳遞大量訊號。當傳輸速度愈來愈快,電路板所使用的材料也必須跟著升級。近年受到關注的「M9」,就是這波高速電路板材料升級的一部分。 Panasonic 在 2025 年公開介紹 MEGTRON9 時,便將它定位於支援單通道 224 Gbps 的高速傳輸,也就是每秒約 2,240 億個位元。聯茂的相關材料也以這類傳輸速度,以及新一代網通設備、伺服器與背板為應用目標。這些規格背後的共同需求,是讓大量資料通過電路板時,仍能維持足夠清楚的訊號。[1][3] 要理解 M9,可以先認識 CCL 與 PCB 的差別。CCL 是 Copper Clad Laminate,中文稱為「銅箔基板」或「覆銅板」,是製造電路板的基礎材料。常見的 CCL 由樹脂、玻璃纖維布及銅箔組成,部分配方還會加入填料。製造商再將銅箔加工成線路,經過壓合、鑽孔與金屬化等步驟,做成可以安裝電子零件的 PCB,也就是印刷電路板。[2][9] 這些材料各有不同的任務:

項目說明
組成在電路板中的作用
銅箔加工成導電線路,傳遞訊號與電力
樹脂提供絕緣,並將材料黏結在一起
玻璃纖維布補強板材,幫助維持形狀與尺寸
填料依配方調整熱膨脹、電性等性能

因此,電路板的性能不只取決於銅線。線路周圍的絕緣材料,也會影響訊號如何傳播,以及傳輸過程中損失多少能量。[2] 材料規格表常見的兩個數字是 Dk 與 Df。Dk 是介電常數,與訊號傳播速度及線路阻抗設計有關;Df 是介電損耗因子,可以理解為材料在交變電場中消耗能量的程度。在相同頻率與測試條件下,較低的 Df 通常代表較低的介質損耗。不過,實際線路的損耗還包括銅箔與線路結構的影響,不能只用一個 Df 數字決定整塊板子的表現。[9] M9 世代的材料開發,就是要在更高速的應用中降低這些損失。但 M9 這個名稱並不能直接告訴我們完整配方:實際比較產品時,仍須確認廠商料號、使用材料及量測條件。 目前公開產品已顯示,高速材料存在不同的玻纖搭配。例如聯茂 IT-999GSE2 使用第二代低介電玻纖布,也就是 Low-Dk2 glass;IT-999GSE3 則使用 Q-glass,通常稱為 Q 布或石英布。兩款產品都面向 224 Gbps 應用,說明提升傳輸能力可以透過不同材料組合來達成。[3] Q 布受到關注,是因為它具有低介電損耗及低熱膨脹的特性。以信越的 SQX 石英布為例,原廠資料列出的 Df 為 0.0001,測試頻率是 10 GHz,並說明其熱膨脹約為一般玻纖布的十分之一。對高速板材而言,這些特性有助於降低材料損耗並維持尺寸穩定。[4] 但玻纖布只是其中一個成分。原料的 Df 很低,不代表做成 CCL 後就會維持相同數字;樹脂、填料、各成分比例及加工方式,仍會共同決定成品性能。 另一條受到關注的方向是 PTFE,也就是聚四氟乙烯。它具有低介電損耗特性,可以作為電路基材的樹脂主體。台虹在 2025 年報中公開,其 PTFE 型 CCL 的 Df 可達 0.0006@10 GHz,並宣稱優於當時既有 M9 材料。[6] 這項資訊反映了 PTFE 路線的電性潛力,但該年報沒有列出完整的對照料號及板子結構,因此還不能據此判定所有 PTFE 材料都優於所有其他方案。PTFE 與 Q 布也不是同一類材料:前者可以擔任樹脂基體,後者是補強纖維,兩者的名稱本身並不構成互斥的選項。 低損耗材料同時也需要搭配合適的銅箔。聯茂 IT-999GSE3 的公開規格已列出 HVLP4/HVLP5 這類低粗糙度銅箔。較平滑的導體表面有助於降低高頻傳輸損耗,但表面處理又必須確保銅與絕緣材料能牢固接合,於是電性與接著力需要一起考慮。[5][8] 這正是 M9 材料開發困難的地方:降低損耗之後,還要讓 PCB 工廠能穩定加工。 以 Q 布為例,石英纖維的加工與成本問題已有長期公開研究。日立化成的相關專利曾指出,石英纖維布存在生產效率、成本及鑽孔加工性的挑戰,並提出透過減少纖維用量來改善。這能說明它為何不是單純換上去就能完成升級,但不能直接用來推算今天的價格或良率。[7] 較新的研究還指出,問題不只發生在鑽孔。Qnity 公開的 M9 石英纖維材料研究摘要提到,這類材料可能增加鑽針磨耗,且表面反應性較低,讓孔壁的化學銅覆蓋與接合變得更困難。PCB 的孔必須在孔壁形成可靠的導電金屬層,才能連通不同層的線路;因此,孔加工與金屬化品質會直接影響電路可靠性。[8] 這份摘要也介紹了改善孔壁處理與化學銅製程的方向。它已公開在 IMPACT-IAAC 2026 官網,但會議預定於 2026 年 10 月舉行,因此目前適合引用其問題描述與研究方向,詳細驗證條件仍需完整論文補充。[8] 高多層板的要求又更進一步。一塊板子裡有許多層線路,某些結構還需要分階段製作,反覆進行壓合、鑽孔與金屬化。材料必須在這些加工及後續焊接的熱歷程中,維持層間接合、尺寸及孔結構的完整性。[9] 因此,材料規格上的「耐熱」需要連同測試條件一起看。以 IT-999GSE3 為例,原廠列出 T288 大於 60 分鐘,代表它在指定的 288°C 試驗條件下具有相應的抗分層能力。這是一項材料指標;真正的高多層板,還涉及板厚、層數、壓合次數、吸濕狀態及孔的設計,必須在對應結構上驗證。[5][9][10] 也就是說,一款材料能降低訊號損耗、能通過材料試片的耐熱測試,與它能否在特定多層多次壓合設計中穩定生產,是不同層次的問題。公開產品規格讓外界看見材料能力,整板驗證則決定它能用在哪裡。 對一般讀者而言,觀察 M9 的進展,可以同時看三件事:訊號傳輸是否更好、工廠加工是否穩定,以及做成完整電路板後是否可靠。隨著 AI 與高速網通設備持續提高資料傳輸需求,能把低損耗性能帶進可重複製造、可長期使用的電路板,將是這一代材料最重要的價值。

資料來源與備註

  • 本文參考資料如下。產品數字均為來源所列條件下的數據;資料整理截止日為 2026 年 9 月 26 日。
  • 1. Panasonic Industry,〈Panasonic Industry Electronic Materials is enabling the 224 Gbps revolution with Megtron 9!〉,2025 年 1 月 15 日。說明 MEGTRON9 的 224 Gbps 應用定位。原文
  • 2. Allen F. Horn III/Rogers Corporation,〈Materials for High-Speed Interconnects: Physics & Chemistry of Copper-Clad Laminates〉,Signal Integrity Journal,2019 年 7 月。說明 CCL 的材料組成、介電特性及材料取捨。原文 PDF
  • 3. 聯茂電子 ITEQ,〈High Tg (Extreme Low-Loss)〉產品頁。公開 IT-999GSE2 使用 Low-Dk2 glass、IT-999GSE3 使用 Q glass,以及相關高速應用定位。原文
  • 4. 信越化學 Shin-Etsu Chemical,〈Low Dielectric Material〉。包含 SQX 石英布的介電與熱膨脹特性;布材數據不可直接當成 CCL 成品數據。原文
  • 5. 聯茂電子 ITEQ,〈IT-999GSE3 Data Sheet〉,REV 1.0-26,文件編號 W-CTE-1002-81B。提供銅箔、電性及熱可靠性等規格。本文涉及該產品的規格數字,以此 PDF 為依據。原文 PDF
  • 6. 台虹科技 TAIFLEX,《2025 Annual Report》,2026 年 3 月 29 日發布,內頁第 99 頁「PTFE-Based Copper Clad Laminates」。包含 PTFE 型 CCL 的 Df 與廠商比較說明。原文 PDF
  • 7. 日立化成 Hitachi Chemical,美國專利 US8227361B2,〈Prepreg and printed wiring board using thin quartz glass cloth〉,2012 年公開授權。說明石英布成本、供應及鑽孔加工性問題;屬歷史技術資料。原文
  • 8. IMPACT-IAAC 2026,S28 公開論文摘要:Atotech,〈Meeting the Challenge of State of the Art PCB Production for Artificial Intelligence Applications〉;Qnity,〈Reliable Metallization of Quartz Fiber M9 Laminates via Advanced Electroless Copper Chemistry for Next-Gen AI/HPC PCBs〉。涉及低粗糙度接著、鑽孔磨耗與孔壁金屬化。摘要已公開,會議預定於 2026 年 10 月 21 日舉行。議程與摘要
  • 9. John Coonrod 等/Rogers Corporation,〈High-Performance PCB Materials for Next-Generation Electronics Packages, driving Signal Integrity, Power Handling, and Reliability〉,IMAPS 2025。討論訊號損耗、連續壓合與孔結構可靠性;試驗結論限於文中材料及結構。原文 PDF
  • 10. AGC Multi Material,〈Q&A〉技術問答。說明板厚、結構、吸濕、熱歷程與加工條件對耐熱及分層可靠性的影響。原文